디아이가 올해 신제품으로 선보인 번인테스터는 기존제품보다 더 높은
IC를 테스트할수 있도록 성능을 향상시킨 것으로 64메가D램까지 검사할수
있다.

번인테스터는 반도체 후공정에서 IC를 테스트하는 장비로 열과 전압 전류
등을 가해서 IC의 기억소자가 제대로 기능을 하는지 최종 테스트한다.

테스터 장비중에서도 번인 테스터는 열을 가하는 방식으로 처리시간이
6시간가량 소요되지만 한번에 6,000~7,000개의 IC를 대량으로 검사할수
있는게 특징이다.

디아이는 이 제품을 올해 국내 반도체소자업체에 110대가량 공급할
계획이다.

(한국경제신문 1996년 6월 10일자).