반도체 시험장비업체인 테라다인은 초당 1기가바이트를 처리할수있는 초고
속 DRAM 테스트장비를 개발했다고 6일 밝혔다.

이장비는 16개의 디바이스를 병렬로 테스트하면서 초당 1기가바이트의 속도
로 작동하는 고속 테스터로 싱크로너스램(SSRAM),다이렉트 램버스DRAM등 최
근 메모리 반도체에서 각광받고있는 초고속메모리 DRAM의 테스트를 위한 것
이다.

고속으로 대량 테스트가 가능해 생산성 향상에 효과적이며 인터페이스는 물
론 디바이스 전체의 불량을 검출해낼수있는 장점이 있다고 이 회사는 설명했
다.

이회사는 이제품을 다음달말 열리는 세미콘코리아에서 전시하고 판매에 나
설 계획이다.

테라다인은 미국 보스톤에 본사를 두고있는 외형 1조원규모의 반도체 테스
트장비업체로 한국시장에는 지난 79년 진출했다. < 고지희 기자 >

(한국경제신문 1998년 1월 7일자).