*** 지창희 < 현대전자 부장대우 >

전사적인 품질 총괄책임자로 전자파 등 21개 측정분야의 국가교정검사기관을
운영하면서 회사특성에 맞는 측정기술 개발에 주력해왔다.

반도체 제조현장에서 먼지입자 크기와 개수를 측정하는 파티클 카운터의
교정검사시스템을 독자 개발해 교정검사를 실시, 미국 등 선진국에 교정
검사를 의뢰하던 비용을 연간 1억9천만원 가량 절감했다.

표준과학연구원과 공동으로 분류식 습도발생장치를 개발해 사내 습도분야
표준장비로 사용하고 이 기술을 바탕으로 반도체 제조공정에서 수분측정 및
분석방법을 완성했다.

웨이퍼 가공라인에서 사용하는 초고순도 가스내의 미소수분을 검출하는데
성공, 생산수율을 3% 향상시켜 연간 2백억원의 생산원가를 감축하고 반도체의
가격 및 품질경쟁력을 높이는데 기여했다.

( 한 국 경 제 신 문 1998년 11월 25일자 ).