반도체 검사장비 개발업체인 유니테스트(대표 김종현)는 6일 고속 번인 장비 UNI930가 대만 난야의 양산 검증을 통과했다고 밝혔다.

유니테스트는 그동안 반도체 후공정의 핵심이라고 할 수 있는 메모리 모듈 테스터 및 메모리 컴포넌트 테스터를 국내 업계 최초로 개발 및 상용화했다.

유니테스트는 이번 양산 검증에 성공한 신제품 'UNI930'을 출시함으로써 반도체 검사장비 시장에서의 사업분야를 다각화하는 계기를 마련하게 됐다.

UNI930은 기존 번인 장비가 가지는 10Mhz 수준의 속도를 100~150Mhz까지 끌어 올려 번인 공정과 고온, 저온 코어 테스트의 세가지 공정을 통합 가능하게 했다는 게 회사측 설명이다. 이에 따라 원가절감 및 납기단축, 수율향상 등 반도체 후공정의 테스트 패러다임을 크게 바꿀 수 있다는 것.

D램 및 플래시 메모리에 모두 사용 가능하며 플래시 메모리에 적용하는 경우 동시에 테스트 가능한 숫자가 현재보다 10배 이상 늘어나게 된다.

회사 관계자는 "1년간의 개발기간을 거쳐 스피드 및 성능을 풀 커버 할 수 있는 고속의 번인 장비를 개발 완료, 지난해 9월 양산검증을 위해 난야에 선적했다"며 "이번 양산 검증 통과로 2010년 하반기부터 본격적인 수주가 기대된다"고 말했다.

그는 이어 "특히 번인 공정은 처리시간이 매우 길어서 기존의 테스터보다 월등히 많은 설비가 필요하기 때문에 향후 장비와 소모품 매출 등 큰 폭의 매출 신장과 실적 개선을 기대하고 있다"고 덧붙였다.

한경닷컴 정형석 기자 chs8790@hankyung.com