반도체 검사장비 전문 개발업체인 유니테스트(대표 김종현)가 2013년 특허기술상에서 충무공상을 수상했다고 1일 밝혔다.

이 상은 특허청에 등록된 우수한 발명 또는 디자인에 주어지는 상이다.

유니테스트는 해외 업체가 독점하고 있는 반도체 검사장비 시장에서 D램용 모듈테스터와 컴포넌트 테스터를 처음으로 국산화에 성공하면서 국내와 해외에서 장비의 품질 및 기술력을 인정받고 있는 메모리 반도체 검사장비 개발업체이다.

특히 기존 장비 외에 모바일 D램 검사장비와, 고속의 번인 장비, SSD테스터 등 제품을 다양화해 지속적인 성장을 이어가고 있다.

회사관계자는 "이번 수상한 특허는 기존의 번인 테스트에서는 고속의 테스트 지원이 불가능했으나 본 발명으로 멀티 패럴랠 지원과 동시에 고속 기능 테스트가 가능하게 했다"며 "한 대의 반도체 검사장비에서 반도체 패키지 테스트 공정을 통합한 일체형 융합 검사 장비의 테스트보드에 적합하도록 메모리 반도체의 번인 및 기능 테스트가 동시에 가능 하도록 개발한 핵심 기술"이라고 설명했다.

이 관계자는 “향후 국외 기업과 본 발명기술에 대하여 대만 지사 및 미국법인을 통해 현지 해외 번인 보드 제작사와 실시권 계약에 관하여 협의할 계획"이라고 덧붙였다.

한경닷컴 정형석 기자 chs8790@hankyung.com