심종인 한양대 에리카 산학협력단 교수는 ‘LED칩 웨이퍼 레벨 고장 진단 및 분석 상용화 기술’과 관련 장비를 개발했다.

이 기술은 네 가지 분야에 적용됐다. 우선 실제 동작온도에서 LED(발광다이오드)의 내부 양자효율을 측정할 수 있도록 한 상용 측정 방법과 장치를 세계 최초로 구현했다. LED가 탄생한 지 50여년이 지났지만 상온에서 LED의 내부 양자효율을 측정할 수 있는 기술과 장비는 없었다.

이에 따라 이 기술과 장비는 앞으로 국제표준으로 자리 잡을 가능성이 크다. 이미 우수성을 인정받아 국내외 유수의 기업들로부터 LED 성능 평가를 위탁받고 있다.

심 교수는 이 기술을 사용해 LED의 3차원 구조에서 만들어지는 전류, 전압, 열분포 등을 해석할 수 있는 LED 성능 해석 소프트웨어도 국내 처음으로 상용화했다. 해외 기업이 개발한 LED 분석 소프트웨어들은 모의실험 결과를 확인하는 데 많은 시간이 소요되고 결과를 2차원적으로 해석한다. 심 교수가 개발한 소프트웨어는 계산 시간을 20배 정도 단축했고, 3차원 해석이 가능하다. 심 교수는 또 PL·웨이퍼 휨·에피층 두께를 연동해 한 장비에서 측정할 수 있는 세계 최초의 상용화 장비와 LED 내부 전기장의 세기를 정량적으로 측정할 수 있는 상용화 장비를 개발했다.

LED 시장에서는 LED 성능의 우수성을 확보하기 위해 LED 성능을 지배하는 물리적 인자들을 철저히 분석할 필요가 대두되고 있다. LED 성능 평가 장비들의 수요가 더욱 늘어날 것으로 보이는 이유다.

김홍열 기자 comeon@hankyung.com