(주)아이티엔티, 반도체 검사장비 DC & FUNCTION TESTER ‘NEOS1’ 출시

(주)아이티엔티(대표 장경훈)는 반도체 검사장비 ‘NEOS1’을 출시했다고 밝혔다.

DC & FUNTION TESTER ‘NEOS1’은 메모리반도체를 효과적으로 테스트 할 수 있는 제품이다. 특정제품에 한정되지 않고 DRAM, NAND FLASH, MOBILE DRAM, eMMC, UFS, HBM 등 메모리 전 제품 테스트가 가능하며, 최소 단위가 매우 작은 사이즈로 실험실 용도에 적합하고 무한 확장이 가능하므로 대량 양산환경 역시 적합하다.

또한 기존 타 경쟁사가 10MHz를 지원하는 DC TESTER 성능을 최대 200MHz까지 지원하면서도 가격은 1/2수준으로 책정되었다. 번인 소타에 연결하여 번인 전 DC & Gross Function 불량 검출목적에 사용될 수 있으며 FOWLP(FAN OUT WAFER LEVEL PACKAGE) 등 복합칩 제조 전 메모리 DIE의 사전 불량 검출용도에도 적합하다.

반도체 검사장비 전문기업 (주)아이티엔티는 2006년 설립이래 반도체 검사장비 분야에서 꾸준히 성장해 왔다. 메모리 검사장비 분야에서 50여개의 국내외 특허를 바탕으로 BOST(BUILT OFF SELF TEST)제품을 기반으로 꾸준한 연구개발을 진행했고 DRAM, NAND FLASH, MOBILE DRAM, STORAGE등 메모리 전 제품을 테스트 가능한 COST EFFECTIVE SOLUTION을 보유 중이다.

2015년부터는 급격히 증가하는 SSD 수요에 맞추어 TESTER 및 HANDLER SOLUTION을 TURN-KEY로 공급하고자 국내 대기업인 세메스의 자동화 사업부를 인수해 SSD 대량생산에 특화된 전자동화 시스템 검사 장비를 공급 중이다.

(주)아이티엔티 관계자는 “메모리뿐만 아니라 설립 이래 10여년간의 꾸준한 연구개발투자로 국내는 거의 불모지인 비메모리 TESTER를 국내 대기업 삼성전자와 SKHynix 및 해외 고객사에 공급 중”이라고 말했다.

이어 테스트 스피드를 1Gbps이상 수준으로 증가시키고 번인 챔버 테스트 기능을 포함한 차세대 HIGH SPEED BURN-IN TESTER를 개발 중이라고 밝혔다.

이것은 차세대 메모리인 HBM(HIGH BANDWIDTH MEMORY)의 고온(+150) & 저온(-50) 테스트 및 SLT(SYSTEM LEVEL TEST)기능 테스트목적에 적합하게 사용될 수 있다. 특징적으로는 TERABIT급 이상 대용량 UFS(UNIVERSAL FLASH STORAGE) 및 3D NAND FLASH MEMORY의 불량 검출에 적합하게 사용될 수 있다. 또한 eMMC를 포함하는 eMCP의 LPDDRx와 동시에 테스트하는 CON-CURRENT TEST 기능도 지원한다.

관계자는 “아이티엔티는 반도체 검사장비 분야에서 기술선도 기업을 목표로 끊임없는 연구개발을 통해 다양한 고객의 수요를 만족시키며 기술 경쟁력을 갖추는 기업이 될 것”이라고 전했다.

권유화 한경닷컴 기자 kyh1117@hankyung.com