[과학계] 대우고등기술연구원, 미세구조결함 분석장치 개발
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대우고등기술연구원은 양전자를 이용해 재료의 미세구조상 결함을 비파괴적으로 측정할수 있는 분석기 시작품을 최근 개발했다. 이 분석장치는 양전자를 이용한 첨단기술의 실용화를 가능케하는 기기로 폴리머를 포함한 복합소재 개발, 암세포를 포함한 생체세포 분석, 의공학 진단시스템 개발등에 활용될수 있다. ( 한 국 경 제 신 문 1998년 3월 31일자 ).