파이컴, 신 반도체 검사부품 개발

파이컴은 8인치 웨이퍼를 단 한번에 테스트할 수 있는 반도체 검사부품을 개발해 하이닉스반도체에 공급하기 시작했다고 밝혔습니다. 신개념의 차세대 반도체 검사부품인 '8인치 원터치 MEMS CARD'는 단 한번의 접촉만으로 웨이퍼 내 모든 칩의 기능을 검사할 수 있으며 기존제품에 비해 검사속도와 생산성이 4배이상 향상됐다고 회사 측은 설명했습니다. 한정원기자 jwhan@wowtv.co.kr