미국에서 1조원 가치의 기술을 유출한 혐의를 받는 중국인 과학자에 대해 징역 2년형이 선고됐다고 AFP통신이 27일(현지시간) 전했다. 미국 오클라호마주 북부 연방 지방법원의 그레고리 프리젤 판사는 이날 중국 국적의 미국 영주권자 탄홍진(36) 씨에게 징역 2년을 선고하고 피해 기업에 15만 달러(약 1억8천만원)의 배상금을 지급하라고 명령했다.
탄씨는 자신이 근무하던 석유 기업에서 배터리 기술을 훔친 혐의로 2018년 12월 체포돼, 지난해 11월 혐의를 인정했다.
당시 법무부는 성명을 통해 탄씨가 훔친 기술은 10억 달러(약 1조 2천억원) 이상의 시장 가치를 지닌다고 밝혔다. 존 데머스 법무부 국가안보 담당 차관보는 "이번 조사와 기소를 통해 미국의 지적 재산을 훔치려는 중국의 집요한 시도가 다시 한번 드러났다"고 지적했다.
탄씨는 2017년 6월부터 체포되기 직전까지 해당 석유 기업에서 근무했다.
법무부는 이 기업의 이름을 공개하진 않았지만, 사회관계망 서비스(SNS) 링크트인에 올라온 그의 프로필에는 그가 오클라호마주에 있는 '필립스 66'이라는 회사 소속 과학자라고 소개돼있다. 그는 취업 이전에는 캘리포니아 공과대학에서 보조 연구원 및 방문 과학자로 근무한 것으로 알려졌다.